在線紅外測溫儀設備缺陷類型的確定及處理方法

    紅外檢測發(fā)現(xiàn)的設備熱缺陷應納入設備缺陷管理制度的范圍，按照設備缺陷管理流程進行處理。根據(jù)過熱缺陷對電氣設備運行的影響程度分為以下三類：

    一般缺陷：指設備存在過熱，有一定的溫差，溫度場有一定梯度，但不會引起事故的缺陷。這類缺陷一般要求記錄在案，注意觀察其缺陷的發(fā)展，利用停電機會檢修，有計劃地安排試驗檢修消除缺陷。

    當電流致熱型缺陷發(fā)熱點溫升值小于15K時，不宜按導則DL/T664-2008的規(guī)定確定設備缺陷的性質(zhì)。對于負荷率小、溫升小但相對溫差大的設備，如果負荷有條件或機會改變時，可在增大負荷電流后進行復測，以確定設備缺陷的性質(zhì)，當無法改變時，可暫定為一般缺陷，加強監(jiān)視。

    在線紅外測溫儀嚴重缺陷：指設備存在過熱，程度較重，溫度場分布梯度較大，溫度較大的缺陷。這類缺陷應盡快安排處理。對電流致熱型設備，應采取必要的措施，如加強檢測等，必要時降低負荷電流；對電壓致熱型設備，應加強監(jiān)測并安排其他測試手段，缺陷類型確認后，立即采取措施消缺。

    在線紅外測溫儀危急缺陷：指設備最高溫度超過GB/T 11022規(guī)定的最高允許溫度的缺陷。這類缺陷應立即安排處理。對電流致熱型設備，應立即降低負荷電流或立即消缺；對電壓致熱型設備，當缺陷明顯時，應立即消缺或退出運行，如有必要，可安排其他試驗手段，進一步確定缺陷性質(zhì)。
    電壓致熱型設備的缺陷一般定為嚴重及以上缺陷。

通過紅外測溫工作原理來分類紅外高溫計的測量法
1、亮度測溫法-TNCR 紅外高溫計
它是根據(jù)測量給定波長K0附近一窄光譜范圍的輻射用黑體定標的儀器來確定物體的溫度，適用于高溫測量。
2、最大波長測溫法-DCTQ 紅外高溫計
由維恩位移定律，黑體輻射峰值波長Kmax與絕對溫度T之積為一常數(shù)，通過測量峰值波長Kmax來計算溫度T。此法常用測量極高溫(大于2000°C)。由此可見，非接觸紅外高溫計有以下的缺點：測得的溫度值是測量對象的表面溫度，且必須用發(fā)射率進行修正，增加了測量的復雜性；周圍介質(zhì)的影響引起測量誤差。
3、多波段測溫法 RF-4A14 紅外高溫計
依次取多個波段，通過計算這些波段輻射功率之間的復雜關系來確定物體的溫度。
4、雙波段測溫法 DCT1 7014紅外雙色高溫計
它是根據(jù)測量兩個給定波長K1和K2的輻射功率之比，用黑體定標的儀器來確定物體的溫度，適合測量發(fā)射率變化或未知的物體，但只適合于測量輻射能量密度大的高溫物體。這3種方法均由普朗克定律來描述。
5、全輻射測溫法 DCTQ-714XO紅外雙色高溫計
它是根據(jù)測量波長從零到無限大整個光譜范圍物體的總輻射功率用黑體定標的儀器來確定物體的溫度。其總輻射功率的大小與被測對象溫度之間的關系是由斯蒂芬-玻爾茲曼定律來描述。

1.1高溫計概述 
IR-EL-6017 系列雙色高溫計（又稱比色高溫計），是一款高性能、智能化的雙色紅外高溫計。它具有堅固的外形，采用304不銹鋼機芯，可選裝帶吹掃和冷卻功能的304不銹鋼防護套。它使用手動可調(diào)焦鏡頭，消色差組合透鏡，高可靠性電路設計（低溫漂、全數(shù)字化測量設計方案、高集成度SOC芯片應用、可視化OLED操作界面）和軟件設計（環(huán)境溫度的補償、實時信號處理、異常信號的處理、各種應用環(huán)境軟件代碼的不斷優(yōu)化）。這些特殊的設計，使IR-SS系列雙色高溫計可滿足各種苛刻工業(yè)現(xiàn)場和精確溫度控制的使用需求。
IR-EL-6017雙色紅外高溫計采用雙色測溫原理通過測量兩個不同波長能量的比值來確定物體的溫度，先進的軟、硬件設計，可滿足在水汽、灰塵、目標大小變化、部分被遮擋、發(fā)射率變化等環(huán)境中，即使檢測信號衰減95%，也不會對測溫結果有任何影響。
高溫計它除了適用于一般工業(yè)場合的溫度測量外，也適用于遠距離測量小目標、發(fā)射率易變化的材料以及有強烈衰減的場合精確溫度的測量。
IR-EL-6017雙色紅外高溫計可應用于中、高溫2000℃以下雙色測溫需求，如：線棒材、熱軋板、鍛造、鑄造、水泥窯、熱處理、感應加熱、單晶硅和多晶硅等各種工業(yè)場合溫度的測量。也可以應用于真空爐、石墨爐、高溫爐等超高溫3000℃以下雙色測溫的應用，并具有較高的穩(wěn)定性。
1.2高溫計產(chǎn)品特點 
紅外測溫儀測溫范圍覆蓋250℃～3000℃；
紅外測溫儀測溫精度0.5%,重復精度為2℃，分辨率0.1℃；
紅外測溫儀響應時間5ms～99.99s可調(diào)；
紅外測溫儀采用手動可調(diào)焦鏡頭，標準焦距0.35m至無窮遠，近焦距0.2m～0.5m可調(diào)；
紅外高溫計對探測器采用PID恒溫控制，自帶全量程溫度補償，避免了環(huán)境溫度對測量精度的影響；
紅外高溫計兼具雙色和單色測溫功能；高亮度綠色LED光源或目鏡，清晰顯示被測目標的位置及大??；
紅外高溫計雙色模式下，有鏡頭臟檢測功能；
比色高溫計采用工業(yè)級OLED屏為顯示界面，人機界面友好；
雙色高溫計多功能外設接口：2路獨立的模擬量輸出、2路報警輸出、1路電平輸出以及1路RS485通訊接口；
紅外雙色高溫計軟硬件等抗干擾設計提高系統(tǒng)穩(wěn)定性，可抗2500VDC脈沖群干擾；
紅外測溫儀有抗氧化測量功能，測量時不受氧化物的影響；
1.3DCT1雙色高溫計與DCT2單色高溫計比較的優(yōu)勢
雙色測溫不會隨物體表面的狀態(tài)而變化（表面粗糙度不一樣、或表面的化學狀態(tài)不一樣），不會影響測溫的準確性，而單色高溫計就會有影響。

RF-4A17高溫計的光學部分如玻璃，在使用一段時間后會留下一些灰塵，空氣中有水、氣、油等，都會使發(fā)射率系數(shù)降低，所以單色高溫計在此時測量溫度會降低。雙色高溫計是通過測量物體在特定的兩個波段范圍內(nèi)的比值，當出現(xiàn)灰塵、水汽等，所測得的兩個波段范圍內(nèi)的信號同時下降，相除以后，比值不變。但這并不指使用雙色高溫計就不需要進行維護，灰塵、水汽等太臟時，仍需擦拭玻璃。

RF-4A11單色高溫計不能測量比視場范圍小的物體。當目標不能充滿視場時，會使測量溫度低

雙色高溫計能測量比視場范圍小的物體。

1.4RF-4A19紅外雙色模式適用場合

紅外測溫儀測量現(xiàn)場多灰塵、水汽和霧氣，測量距離遠和近的變化，測量小目標，物體局部被遮擋等場合，以及需要免維護的場合。雙色模式允許安裝角度與測量方向小于45度。當背景溫度比被測溫度更高時，不適用于選擇雙色模式，應選擇單色模式。

1.5技術參數(shù)

關鍵詞：熱軋線棒材鋼坯雙色高溫計 金屬注射成型燒結爐紅外高溫計 真空氫氣爐紅外比色高溫計

真空熱壓爐雙色高溫計 核管退火爐紅外高溫計 晶體材料紅外高溫計 晶圓高溫處理爐紅外高溫計
氮化硅氣壓爐紅外高溫計 真空淬火爐高溫計 碳化鎢氣壓爐紅外高溫計 CVD 化學氣相沉積爐高溫計
石墨純化爐高溫計 旋轉(zhuǎn)粉末燒結爐高溫計 真空感應熔鑄爐紅外高溫計 熱風爐拱頂紅外雙色測溫裝置